Дата
Электронная почта
Веб-сайт
Получите решения и предложения.
Быстрое развитие полупроводниковой промышленности сместило акцент на полупроводники третьего поколения, такие как карбид кремния (SiC) и нитрид галлия (GaN). Эти материалы являются основой для высокочастотных, высокотемпературных и мощных применений, от силовых установок электромобилей до инфраструктуры 5G. Однако для производства этих передовых полупроводников требуются технологические газы сверхвысокой чистоты. Среди них гексафторид серы (SF6) часто используется при плазменном травлении и очистке камер.
Даже следовые количества кислотных примесей, в частности фтороводорода (HF), могут нарушить структурную целостность полупроводниковой пластины и привести к выходу устройства из строя. Следовательно, Комплексный анализатор газа SF6 Для обнаружения примесей SF6 (кислотных примесей) в полупроводниках третьего поколения этот метод стал незаменимым инструментом на предприятиях по производству полупроводников.
Полупроводники третьего поколения характеризуются широкой запрещенной зоной. Для обработки этих прочных материалов в методах плазменного травления используется SF6 в качестве источника фторидных радикалов. В плазменной среде молекулы SF6 диссоциируют, обеспечивая атомы фтора, необходимые для травления подложек.
В ходе этого процесса, если газ SF6 содержит влагу (H2O), или, если в системе подачи есть утечки, происходит химическая реакция, в результате которой образуется фторид водорода (HF).
Коррозия: HF оказывает сильное коррозионное воздействие на специализированные газопроводы и саму реакционную камеру.
Снижение выхода годной продукции: следы HF могут вызывать неравномерное травление и вносить дефекты в кристаллическую решетку кремниевых или нитридных пластин.
Риски для безопасности: HF чрезвычайно токсичен для персонала и представляет значительную опасность для окружающей среды.
По этим причинам производители полупроводников должны использовать комплексный анализатор газа SF6 для обнаружения кислотных примесей (HF) в полупроводниковых материалах третьего поколения, чтобы контролировать качество газа в месте использования.
Традиционные анализаторы SF6, используемые на подстанциях, часто не подходят для применения в полупроводниковой промышленности. Для полупроводникового SF6 требуется чувствительность на уровне менее ppm (частей на миллион).
Профессиональный газоанализатор SF6, такой как серия RA912F, должен соответствовать нескольким техническим требованиям:
Высокая чувствительность к HF и SO2: Поскольку HF является основным побочным продуктом кислотной реакции, датчик должен уметь обнаруживать его в концентрациях ниже 1 ppm.
Управление перекрестной чувствительностью к влаге: HF часто образуется в присутствии влаги. Для получения полной картины химического состава газа анализатор должен одновременно измерять точку росы.
Химическая стойкость: Внутренние компоненты анализатора должны быть устойчивы к воздействию тех самых кислотных примесей, которые он предназначен измерять.
Газовый анализатор RA912F SF6 представляет собой вершину технологий полевых испытаний, адаптированную к строгим требованиям полупроводниковой промышленности. Он предлагает специализированный набор функций, предназначенных для обнаружения кислотных примесей с точностью лабораторного уровня.
В датчике RA912F используется комбинация электрохимических и емкостных технологий измерения:
Обнаружение кислых газов (HF/SO2): Электрохимические датчики откалиброваны для обнаружения SO2 и HF, которые являются наиболее распространенными маркерами деградации и загрязнения SF6.
Диапазон измерений и точность: Благодаря максимально допустимой погрешности +/- 0,5 мкл/л для низких концентраций, прибор RA912F обеспечивает высокоточные данные, необходимые для поддержания стандартов производства SiC и GaN.
Проверка чистоты: Используя принципы теплопроводности, устройство обеспечивает проверку чистоты. чистота SF6 остается выше порогового значения в 99,9%, необходимого для плазменных процессов.
Для руководителя цеха по производству полупроводников решение о внедрении комплексного анализатора газа SF6 для обнаружения примесей SF6 (HF) в полупроводниковых материалах третьего поколения продиктовано соображениями рентабельности инвестиций и снижения рисков.
Оборудование, используемое в производстве SiC и GaN, такое как установки MOCVD (металлоорганическое химическое осаждение из газовой фазы) и ICP (индуктивно связанная плазма), стоит миллионы долларов. Попадание в эти системы газа, загрязненного HF, может привести к необратимому повреждению кварцевых компонентов и вакуумных уплотнений.
В полупроводниковой промышленности действуют строгие стандарты SEMI, а протоколы обращения с газом часто соответствуют стандартам IEC 60376 и IEC 60480. Стандарт RA912F гарантирует, что газ, используемый на предприятии — будь то первичный газ или газ, полученный в процессе очистки, — соответствует этим международным стандартам.
В контексте комплексного анализатора газа SF6 для обнаружения кислотных примесей (HF) в полупроводниковых газах третьего поколения SF6, влага (H2O) является «фактором, способствующим» образованию кислоты.
Типичная химическая реакция выглядит следующим образом:
SF6 + H2O (Влага) + Энергия (Плазма/Тепло) -> SOF2 + 2HF
Благодаря одновременному мониторингу H2O и HF, прибор RA912F позволяет техническим специалистам определить первопричину загрязнения. Высокий уровень H2O указывает на утечку или неисправность в системе осушения газа. Высокий уровень HF при низком уровне H2O свидетельствует о загрязнении в процессе заправки или регенерации газа.
Газовый анализатор RA912F SF6 разработан для портативного использования и простоты применения в условиях сложной планировки полупроводникового производства.
Испытания на нулевой уровень выбросов: Для предотвращения выброса токсичных HF и дорогостоящего SF6 в среду цеха фабричного производства, прибор RA912F оснащен насосом возвратного типа. Это позволяет регенерировать отработанный газ после анализа, поддерживая качество воздуха в чистом помещении.
Интеллектуальная диагностика: встроенная экспертная система мгновенно выдает результат «пройдено/не пройдено» на основе предварительно установленных пороговых значений для полупроводниковой промышленности, что снижает потребность в специализированном персонале по химическому анализу на производстве.
Прослеживаемость данных: Каждый тест может быть зарегистрирован с цифровой меткой времени и идентификатором оборудования, что крайне важно для обеспечения «прослеживаемости качества» при производстве микросхем SiC автомобильного класса.
Переход к полупроводникам SiC и GaN — это революция в силовой электронике, но эта революция требует бескомпромиссного качества газа. Комплексный анализатор газа SF6 для обнаружения примесей кислых газов (HF) в полупроводниках третьего поколения — это не просто измерительное оборудование; это важнейшая гарантия производительности завтрашнего дня.
Серия RA912F обеспечивает точность, безопасность и соответствие стандартам, необходимые для обнаружения следовых количеств HF до того, как они повлияют на пластину. Для производителей, стремящихся занять лидирующие позиции на рынках 5G и электромобилей, тщательный анализ SF6 является основой надежного и высокопроизводительного продукта.
| Параметр | Принцип измерения | Диапазон | Точность |
| HF/SO2 (кислота) | Электрохимический | 0-100 мкл/л | +/- 0,5 мкл/л (нижний предел) |
| чистота SF6 | Теплопроводность | 0-100% | +/- 0,5% |
| Влага (H2O) | Емкостной | от -60 до +20 °C | +/- 2 °C |
| H2S | Электрохимический | 0-100 мкл/л | +/- 0,5 мкл/л |